Csik, AttilaLanger, Gábor AntalBeke, Dezső LászlóErdélyi, ZoltánMenyhárd, MiklósSulyok, Attila2012-12-102012-12-102001Journal Of Applied Physics. -89 : 1 (2001), p. 804-806. -J. Appl. Phys. - 0021-89790021-8979http://hdl.handle.net/2437/154817Interdiffusion in amorphous Si/Ge multilayers by Auger depth profiling techniquefolyóiratcikkopen access journal (12h embargó)http://webpac.lib.unideb.hu:8082/ebib/CorvinaWeb?action=cclfind&resultview=long&ccltext=idno+BIBFORM039958TermészettudományokFizikai tudományokszerzőhttp://dx.doi.org/10.1063/1.13313302017-12-01