Baranyai, EdinaNagy, Petra2018-11-152018-11-152018-11-14http://hdl.handle.net/2437/259032Az elemi szennyezők az egyes gyártási folyamatok során számtalan forrásból megjelenhetnek a gyógyszerkészítményekben, amelyekre szigorú határértékeket fogalmaznak meg a gyógyszerkönyvi irányelvek. A munka célja a legnagyobb kockázattal rendelkező segédanyagok közül a magnézium-sztearátra vonatkozóan induktívan csatolt plazma technikával mérési módszert optimalizálni, amely a kis koncentrációban megjelenő szennyező elemek megbízható, multielemes analízist teszi lehetővé.28husegédanyagICP-OESatomspektrometriaelemi szennyezőkgyógyszerekDEENK Témalista::Kémia