Bányai, IstvánMóré, Gergő2016-05-062016-05-062016-05-06http://hdl.handle.net/2437/226637Két tenzid cmc-jének meghatározása két különböző módszerrel és a különbségek megmagyarázása kísérleti és hipotetikus úton.45huCC0 1.0 Universalfelületi feszültségkritikus micellaképződési koncentrációcmcsztalagmométerDu Noüy tenziométerFelületi feszültség mérőmódszereinek összehasonlítása felületaktív anyagok kritikus micellaképződési koncentrációjának meghatározásávalDEENK Témalista::Kémia