Tomán, JánosErdélyi, ZoltánJáger, Gabriella2019-05-032019-05-032019-05-03http://hdl.handle.net/2437/266824Fázisszeparálódó rendszerek vizsgálata sztochasztikus kinetikus átlagtér (SKMF) módszerrel. Kritikus nukleuszméret meghatározása klasszikus és nem klasszikus nukleációs folyamat során. Szabad felület hatásának vizsgálata oxidba ágyazott félvezető nanokristályok keletkezésekor.45hufázisszeparálódásszimulációanyagtudományionbesugárzásnukleációSKMFFázisszeparálódás atomisztikus modellezéseDEENK Témalista::Fizika