Csarnovics, IstvánSzilágyi, Kristóf2020-05-162020-05-162020-05-15http://hdl.handle.net/2437/2875611D és 2D nanostruktúrák létrehozása holografikusan és paramétereinek mérése optikai úton. Utólagos kiértékelés optikai és atomerő mikroszkóp segítségével.47huNanostruktúrákMérésLézerHolográfia1D és 2D felületi struktúrák kialakítása, vizsgálata és azok optikai paramétereinek méréséhez szükséges jelfeldolgozó egység tervezése és kialakításaDEENK Témalista::Fizika