Kaganovskii, Yuri S.Trunov, M. L.Cserháti, CsabaLytvyn, P. M.Beke, Dezső LászlóKökényesi, Sándor2014-05-192014-05-192014Journal Of Applied Physics. -115 : 18 (2014), p. 183512-1. -J. Appl. Phys. - 0021-89790021-8979http://hdl.handle.net/2437/192598Electron-beam induced variation of surface profile in amorphous As20Se80 filmsfolyóiratcikkopen access journal (12h embargó)http://webpac.lib.unideb.hu:8082/ebib/CorvinaWeb?action=cclfind&resultview=long&ccltext=idno+BIBFORM052845TermészettudományokFizikai tudományokhttp://scitation.aip.org/content/aip/journal/jap/115/18/10.1063/1.4875838szerzőhttp://dx.doi.org/10.1063/1.48758382020-06-04