Titán-dioxid vékonyréteg fotokatalitikus tulajdonságának mérése spektroszkópiai ellipszométerrel
Betöltés ...
Fájlok
Dátum
Authors
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
DOI
Absztrakt
Atomi rétegleválasztással készített TiO2 réteg fotokatalitikus tulajdonságának in situ mérésére kidolgozott új mérési eljárás.
Leírás
Kulcsszavak
Forrás
Hivatkozás
Gyűjtemények
Jóváhagyás
Áttekintés
Kiegészítve
Hivatkozik rá
Jogok és engedélyezések
Hozzáférhető a 2022 decemberi felsőoktatási törvénymódosítás értelmében.