Titán-dioxid vékonyréteg fotokatalitikus tulajdonságának mérése spektroszkópiai ellipszométerrel

Fájlok
(1.43 MB)
Dátum
Szerzők
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt

Atomi rétegleválasztással készített TiO2 réteg fotokatalitikus tulajdonságának in situ mérésére kidolgozott új mérési eljárás.

Leírás
Kulcsszavak
fotokatalízis, titán-dioxid, spin-coating, sztearinsav, ellipszometria
Forrás
Hivatkozás
https://hdl.handle.net/2437/395191
Gyűjtemények
Hallgatói dolgozatok (Fizikai Intézet)