English
Magyar
Bejelentkezés
Központi bejelentkeztetés
Kérjük bejelentkezéshez használja az egyetemi hálózati azonosítóját és jelszavát (eduID)!
Kategóriák és gyűjtemények
Böngészés
Statisztika
English
Magyar
Bejelentkezés
Központi bejelentkeztetés
Kérjük bejelentkezéshez használja az egyetemi hálózati azonosítóját és jelszavát (eduID)!
Digitális könyvtár
Hallgatói dolgozatok
PhD dolgozatok
Publikációk
Főoldal
További gyűjtemények
Tehetséggondozó Program (DETEP)
TALENTUD FOS
Measurements of the depletion voltage of SOI (Silicon-On-Insulator) pixel detector
Measurements of the depletion voltage of SOI (Silicon-On-Insulator) pixel detector
Dátum
2023-06
Szerzők
Shadhin Nazmul Hasan
Piotr Kapusta
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Jogtulajdonos
URL
Jelzet
Egyéb azonosító
Forrás
Támogatás
Hivatkozás
https://hdl.handle.net/2437/356197
Gyűjtemények
TALENTUD FOS
A tétel részletes nézete