Interface sharpening in miscible Ni/Cu multilayers studied by atom probe tomography
Betöltés ...
Dátum
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Forrás
Applied Physics Letters. -99 : 18 (2011), p. 181902-1-181902-3. -Appl. Phys. Lett. - 0003-6951
Hivatkozás
Gyűjtemények
Jóváhagyás
Áttekintés
Kiegészítve
Hivatkozik rá
Jogok és engedélyezések
open access journal
American Institute of Physics
American Institute of Physics