Agilent 3070 tesztplatform alkalmazása az elektronika tesztelési folyamatban
dc.contributor.advisor | Misák, Sándor | |
dc.contributor.author | Tóth, Gábor | |
dc.contributor.department | DE--TEK--Természettudományi és Technológiai Kar--Fizikai Intézet | hu_HU |
dc.date.accessioned | 2011-11-21T09:08:16Z | |
dc.date.available | 2011-11-21T09:08:16Z | |
dc.date.created | 2011-11 | |
dc.date.issued | 2011-11-21T09:08:16Z | |
dc.description.abstract | Agilent 3070-es ICT berendezés bemutatása, tesztelési eljárások, alkalmazás fejlesztés a berendezésre, és fixture készítés. | hu_HU |
dc.description.corrector | gj | |
dc.description.course | Villamosmérnök | hu_HU |
dc.description.degree | Bsc | hu_HU |
dc.format.extent | 53 oldal | hu_HU |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2437/118862 | |
dc.language.iso | hu | hu_HU |
dc.subject | Agilent 3070 | hu_HU |
dc.subject | PCB | hu_HU |
dc.subject.dspace | DEENK Témalista::Műszaki tudományok::Villamosságtan | hu_HU |
dc.title | Agilent 3070 tesztplatform alkalmazása az elektronika tesztelési folyamatban | hu_HU |