<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Optical and Morphological Characterization of Nanoscale Oxides Grown in Low-Energy H+-Implanted c-Silicon

Absztrakt

Leírás

Kulcsszavak

Forrás

Micro. -4 : 3 (2024), p. 426-441. -Micro. - 2673-8023

Jóváhagyás

Áttekintés

Kiegészítve

Hivatkozik rá

Jogok és engedélyezések

open access article
Szerző