Statisztika a következő hatókörre szűkítve: Structural Analysis of Si(OEt)4 Deposits on Au(111)/SiO2 Substrates at the Nanometer Scale Using Focused Electron Beam-Induced Deposition

Összes látogatás

views
Structural Analysis of Si(OEt)4 Deposits on Au(111)/SiO2 Substrates at the Nanometer Scale Using Focused Electron Beam-Induced Deposition 16

Összes látogatás havi bontásban

views
június 2025 0
július 2025 0
augusztus 2025 0
szeptember 2025 0
október 2025 0
november 2025 0
december 2025 0

Fájlok megtekintése

views
FILE_UP_1_acsomega.3c00793.pdf 14