Statisztika a következő hatókörre szűkítve: Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer
Összes látogatás
| views | |
|---|---|
| Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer | 6 |
Összes látogatás havi bontásban
| views | |
|---|---|
| november 2025 | 0 |
| december 2025 | 0 |
| január 2026 | 0 |
| február 2026 | 0 |
| március 2026 | 0 |
| április 2026 | 1 |
| május 2026 | 0 |
Fájlok megtekintése
| views | |
|---|---|
| FILE_UP_0_Characterization of nanoscale atomic.pdf | 33 |
Megtekintések országok szerint
| views | |
|---|---|
| Egyesült Államok | 1 |
Megtekintések városok szerint
| views | |
|---|---|
| Mountain View | 1 |