Statisztika a következő hatókörre szűkítve: In-situ spectral reflectance investigation of hetero-epitaxially grown β-Ga2O3 thin films on c-plane Al2O3 via MOVPE process

Összes látogatás

views
In-situ spectral reflectance investigation of hetero-epitaxially grown β-Ga2O3 thin films on c-plane Al2O3 via MOVPE process 14

Összes látogatás havi bontásban

views
június 2025 0
július 2025 0
augusztus 2025 0
szeptember 2025 0
október 2025 0
november 2025 0
december 2025 2

Fájlok megtekintése

views
FILE_UP_0_In_situ spectral reflectance investigation of hetero.pdf 46

Megtekintések országok szerint

views
Kína 2

Megtekintések városok szerint

views
Beijing 2