NI myDAQ eszközzel támogatott ipari szenzor vizsgáló állomás modellezése
Fájlok
Dátum
2017-03-13
Szerzők
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
DUPress
Absztrakt
Munkám célja az volt, hogy tervezzek és valósítsak meg egy olyan mozgatással egybekötött programozott rendszert, amely a hozzá csatlakoztatott érzékelő bizonyos paramétereit és az adott érzékelt tárgyra adott reakcióját megfelelő mintavételezéssel feldolgozza, rögzíti, majd pedig kiértékelésre megfelelő formában meg is jeleníti.
Leírás
Cikk.
Kulcsszavak
National Instruments, myDAQ, LabVIEW, Reed, FESTO