NI myDAQ eszközzel támogatott ipari szenzor vizsgáló állomás modellezése
dc.contributor.author | Ács, Viktória | |
dc.contributor.author | Tóth, János | |
dc.contributor.author | Husi, Géza | |
dc.date.accessioned | 2017-03-13T07:45:48Z | |
dc.date.available | 2017-03-13T07:45:48Z | |
dc.date.issued | 2017-03-13 | |
dc.description | Cikk. | hu_HU |
dc.description.abstract | Munkám célja az volt, hogy tervezzek és valósítsak meg egy olyan mozgatással egybekötött programozott rendszert, amely a hozzá csatlakoztatott érzékelő bizonyos paramétereit és az adott érzékelt tárgyra adott reakcióját megfelelő mintavételezéssel feldolgozza, rögzíti, majd pedig kiértékelésre megfelelő formában meg is jeleníti. | hu_HU |
dc.identifier.doi | 10.17667/riim.2017.si/1. | hu_HU |
dc.identifier.issn | 2064-9622 | hu_HU |
dc.identifier.issue | Különszám | hu_HU |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2437/235803 | |
dc.identifier.volume | 4. | hu_HU |
dc.language.iso | hu | hu_HU |
dc.publisher | DUPress | hu_HU |
dc.publisher.place | Debrecen | hu_HU |
dc.subject | National Instruments | hu_HU |
dc.subject | myDAQ | hu_HU |
dc.subject | LabVIEW | hu_HU |
dc.subject | Reed | hu_HU |
dc.subject | FESTO | hu_HU |
dc.title | NI myDAQ eszközzel támogatott ipari szenzor vizsgáló állomás modellezése | hu_HU |
dc.type | Article | hu_HU |
Fájlok
Eredeti köteg (ORIGINAL bundle)
1 - 1 (Összesen 1)
Nincs kép
- Név:
- AcsViktoria_cikk_2016.pdf
- Méret:
- 548.53 KB
- Formátum:
- Adobe Portable Document Format
- Leírás:
Engedélyek köteg
1 - 1 (Összesen 1)
Nincs kép
- Név:
- license.txt
- Méret:
- 2.57 KB
- Formátum:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Leírás: