Archeometriai vizsgálatok ion-nyaláb analitikai módszerrel

A tétel rövid nézete
dc.contributor.advisorSzikszai, Zita
dc.contributor.authorVirág, János Péter
dc.contributor.departmentDE--Természettudományi és Technológiai Kar--Fizikai Intézethu_HU
dc.date.accessioned2015-05-12T12:00:15Z
dc.date.available2015-05-12T12:00:15Z
dc.date.created2015
dc.description.abstractIon-nyaláb analitikai vizsgálatok, ED-XRF, PIXE. X. századi érmék vizsgálata PIXE módszerrel.hu_HU
dc.description.correctorgj
dc.description.courseFizikahu_HU
dc.description.degreeBSc/BAhu_HU
dc.format.extent23hu_HU
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2437/212714
dc.language.isohuhu_HU
dc.rightsNevezd meg! - Ne add el! - Ne változtasd! 2.5 Magyarország*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/hu/*
dc.subjectArcheometriahu_HU
dc.subjectpixe
dc.subjection-nyaláb
dc.subject.dspaceDEENK Témalista::Fizikahu_HU
dc.titleArcheometriai vizsgálatok ion-nyaláb analitikai módszerrelhu_HU
Fájlok
Gyűjtemények
Hallgatói dolgozatok (Természettudományi és Technológiai Kar)