PXIe mérésadatgyűjtő kártya tesztjének továbbfejlesztése
Absztrakt
A dolgozatban egy az NI által gyártott mérésadatgyűjtő kártya tesztjének a továbbfejlesztését mutatom be. A dolgozatban kitérek a jelenlegi tesztelés hiányosságaira, majd fejlesztési lehetpségeket vizsgálok meg, melyek közül az egyiket meg is valósítom. Végezetül, kiértékelem a fejlesztéssel elért eredményeket.
Leírás
Kulcsszavak
NI, mérésadatgyűjtő kártya, teszt fejlesztés