Optical properties of silicon and germanium determined by high-precision analysis of reflection electron energy loss spectroscopy spectra

A tétel rövid nézete
dc.contributor.authorYang, L. H.
dc.contributor.authorTőkési, Károly
dc.contributor.authorTóth, J.
dc.contributor.authorDa, B.
dc.contributor.authorLi, H. M.
dc.contributor.authorDing, Z. J.
dc.date.accessioned2020-10-01T09:14:35Z
dc.date.available2020-10-01T09:14:35Z
dc.date.issued2019
dc.date.oa2020-10-02
dc.date.pasync2025-09-22T23:11:21Z
dc.date.updated2020-10-02T00:30:24Z
dc.description.correctorLB
dc.identifier.citationPhysical Review B. -100 : 24 (2019), p. 1-17. -(cikkazonosító)245209. -Phys. Rev. B. - 2469-9950. - 2469-9969
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.100.245209
dc.identifier.issn2469-9950
dc.identifier.issn2469-9969
dc.identifier.opachttp://webpac.lib.unideb.hu:8082/ebib/CorvinaWeb?action=cclfind&resultview=long&ccltext=idno+BIBFORM088169
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2437/296426
dc.identifier.urlhttps://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.100.245209
dc.languageeng
dc.rights.accessopen access journal
dc.rights.ownerAmerican Physical Society
dc.subject.mabTermészettudományok
dc.subject.mabFizikai tudományok
dc.titleOptical properties of silicon and germanium determined by high-precision analysis of reflection electron energy loss spectroscopy spectra
dc.typefolyóiratcikk
dc.typeidegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Fájlok
Eredeti köteg (ORIGINAL bundle)
Megjelenítve 1 - 1 (Összesen 1)
Nincs kép
Név:
FILE_UP_1_document.pdf
Méret:
3.52 MB
Formátum:
Adobe Portable Document Format
Leírás:
kiadói változat
Letöltés
Gyűjtemények
Publikációs Adatbázis