Az elemi szennyezők az egyes gyártási folyamatok során számtalan forrásból megjelenhetnek a gyógyszerkészítményekben, amelyekre szigorú határértékeket fogalmaznak meg a gyógyszerkönyvi irányelvek. A munka célja a legnagyobb kockázattal rendelkező segédanyagok közül a magnézium-sztearátra vonatkozóan induktívan csatolt plazma technikával mérési módszert optimalizálni, amely a kis koncentrációban megjelenő szennyező elemek megbízható, multielemes analízist teszi lehetővé.