Felületek szennyeződésének alfa-spektometriás mérése

Abstract

Munkám során a mérő-, adatgyűjtő és feldolgozó rendszerek több változatát használtam. Ezek közül a legkorszerűbb a digitális jelfeldolgozó processzorral működő, „minden elektronikát egyetlen dobozba zsúfoljunk” elv szerint működő, LapTop USB-portjára csatlakozó GENIE2K rendszer volt. A mi kísérleteink során is bebizonyosodott, hogy a forrás tulajdonságai alapvetően befolyásolják a spektrum minőségét. Ez a detektorfejlesztők számára nagyon fontos. Nagy irodalma van az alfa-forrás készítésnek. A legkülönbözőbb kémiai és elektrokémiai lecsapatási, leválasztási eljárásokat dolgozzák ki. A mi szerény vegyészeti tudásunkkal és laboratóriumi lehetőségeinkkel nem tudunk ezekkel versenyezni (bár a közelben több intézménnyel lehetne együttműködni). Viszont az emanáló forrás nagy lehetőségeket rejt: elektromos úton, hordozó nélkül lehet „végtelen vékony” forrást készíteni. Ezt eddig is így csináltuk. Ami viszont új (saját magunk számára, mert amúgy logikus), hogy a felfogó elektróda felületi minősége rendkívül kritikus. Ezt különféle mikroszkópiai módszerekkel ellenőrizni és a kereskedelmi forgalomban kapható dörzslapokhoz adott szemcseméretek mellett más paraméterekkel jellemezni lehet. Mi a lézernyaláb szóródását egy kezdeti fázisban felhasználtuk ilyen jellemzésre és eléggé egyértelmű összefüggést lehetett látni. A fényes ragasztóval készült, nagy szemcseméretű lapoknál ez sem nyújtott konzekvens eredményeket. Mindenesetre: megteremtettük a nagyon jó minőségű alfa-forrás egyszerű és olcsó előállításának feltételeit. A forrás, a környezet, elektronika megfelelő finomhangolásával a gyártó cég által megadott 19 keV-es felbontás helyett 15 keV-et is el tudtunk érni. A Th(B+C) 6 MeV körüli kettős csúcsát könnyűszerrel felbontja a spektrométer.