Electron beam-induced mass transport in As-Se thin films: compositional dependence and glass network topological effects

dc.contributor.authorTrunov, M. L.
dc.contributor.authorCserháti, Csaba
dc.contributor.authorLytvyn, P. M.
dc.contributor.authorKaganovskii, Yuri S.
dc.contributor.authorKökényesi, Sándor
dc.date.accessioned2013-06-20T10:29:50Z
dc.date.available2013-06-20T10:29:50Z
dc.date.issued2013
dc.date.pasync2020-06-04T00:30:19Z
dc.date.updated2020-06-04T00:30:19Z
dc.identifier.citationJournal Of Physics D-Applied Physics. -46 : 24 (2013), p. 245303-. -J. Phys. D-Appl. Phys. - 0022-3727
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.1088/0022-3727/46/24/245303
dc.identifier.issn0022-3727
dc.identifier.opachttp://webpac.lib.unideb.hu:8082/ebib/CorvinaWeb?action=cclfind&resultview=long&ccltext=idno+BIBFORM046936hu
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2437/171108
dc.identifier.urlhttp://stacks.iop.org/0022-3727/46/i=24/a=245303?key=crossref.2c34e37c74a93f03ed23f1bd44feb65a
dc.languageeng
dc.rights.accessopen access pre-print és post-print (12h embargó)
dc.rights.ownerIOP Publishing
dc.subject.mabTermészettudományok
dc.subject.mabFizikai tudományok
dc.tenderTÁMOP-4.2.1/B-09/1/KONV-2010-0007
dc.tenderTÁMOP-4.2.2.A-11/1/KONV-2012-0036
dc.titleElectron beam-induced mass transport in As-Se thin films: compositional dependence and glass network topological effects
dc.typefolyóiratcikk
dc.typeidegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Fájlok
Eredeti köteg (ORIGINAL bundle)
Megjelenítve 1 - 1 (Összesen 1)
Nincs kép
Név:
postfile_up_Journal of PhysDAppl.Phys_2013_46_24PROOF.pdf
Méret:
1.76 MB
Formátum:
Adobe Portable Document Format
Leírás:
pre-print