Electron-beam induced variation of surface profile in amorphous As20Se80 films

Fájlok
Kiadói változat(1.2 MB)
Dátum
2014
Szerzők
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Forrás
Journal Of Applied Physics. -115 : 18 (2014), p. 183512-1. -J. Appl. Phys. - 0021-8979
Hivatkozás
http://hdl.handle.net/2437/192598
Gyűjtemények
Publikációs Adatbázis