<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Electron irradiation induced amorphous SiO2 formation at metal oxide/Si interface at room temperature; electron beam writing on interfaces

Absztrakt

Leírás

Kulcsszavak

Forrás

Scientific Reports. -8 : 1 (2018), p. 1-7. -(cikkazonosító)2124. -Sci. Rep. - 2045-2322

Jóváhagyás

Áttekintés

Kiegészítve

Hivatkozik rá

Jogok és engedélyezések

open access journal
szerző