Structural Analysis of Si(OEt)4 Deposits on Au(111)/SiO2 Substrates at the Nanometer Scale Using Focused Electron Beam-Induced Deposition
Betöltés ...
Dátum
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Forrás
ACS Omega. -8 : 27 (2023), p. 24233-24246. -ACS Omega. - 2470-1343. - 2470-1343
Hivatkozás
Gyűjtemények
Jóváhagyás
Áttekintés
Kiegészítve
Hivatkozik rá
Jogok és engedélyezések
open access article