Structural Analysis of Si(OEt)4 Deposits on Au(111)/SiO2 Substrates at the Nanometer Scale Using Focused Electron Beam-Induced Deposition

A tétel rövid nézete
dc.contributor.authorMason, Nigel J.
dc.contributor.authorPintea, Maria
dc.contributor.authorCsarnovics, István
dc.contributor.authorFodor, Tamás
dc.contributor.authorSzikszai, Zita
dc.contributor.authorKertész, Zsófia
dc.date.accessioned2023-07-11T10:23:59Z
dc.date.available2023-07-11T10:23:59Z
dc.date.issued2023
dc.date.oa2024-05-13
dc.date.pasync2024-05-13T23:06:50Z
dc.date.updated2023-07-11T10:23:59Z
dc.description.correctorLB
dc.identifier.citationACS Omega. -8 : 27 (2023), p. 24233-24246. -ACS Omega. - 2470-1343. - 2470-1343
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.1021/acsomega.3c00793
dc.identifier.issn2470-1343
dc.identifier.opachttps://ebib.lib.unideb.hu/ebib/CorvinaWeb?action=cclfind&resultview=long&ccltext=idno+BIBFORM113282
dc.identifier.scopus85164928602
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2437/357415
dc.identifier.urlhttps://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsomega.3c00793
dc.identifier.wos001018990400001
dc.languageeng
dc.rights.accessopen access article
dc.subject.mabTermészettudományok
dc.subject.mabFizikai tudományok
dc.titleStructural Analysis of Si(OEt)4 Deposits on Au(111)/SiO2 Substrates at the Nanometer Scale Using Focused Electron Beam-Induced Deposition
dc.typefolyóiratcikk
dc.typeidegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Fájlok
Eredeti köteg (ORIGINAL bundle)
Megjelenítve 1 - 1 (Összesen 1)
Nincs kép
Név:
FILE_UP_1_acsomega.3c00793.pdf
Méret:
11.58 MB
Formátum:
Adobe Portable Document Format
Leírás:
Kiadói változat
Letöltés
Gyűjtemények
Publikációs Adatbázis