Ipari mérőkártyák tesztelése és minősítése labview/teststand software-el
Dátum
2013-12-20T10:18:47Z
Szerzők
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Mérőkártya fizikai paramétereinek a tesztelése Labview rendszeren keresztül.
Leírás
Kulcsszavak
Labview, Teszt