Ipari mérőkártyák tesztelése és minősítése labview/teststand software-el

A tétel rövid nézete
dc.contributor.advisorKazup, László
dc.contributor.authorSzabó, Péter
dc.contributor.departmentDE--TEK--Természettudományi és Technológiai Kar--Fizikai Intézethu_HU
dc.date.accessioned2013-12-20T10:18:47Z
dc.date.available2013-12-20T10:18:47Z
dc.date.created2013-12-20
dc.date.issued2013-12-20T10:18:47Z
dc.description.abstractMérőkártya fizikai paramétereinek a tesztelése Labview rendszeren keresztül.hu_HU
dc.description.correctorgj
dc.description.courseVillamosmérnökhu_HU
dc.description.degreeBSc/BAhu_HU
dc.format.extent43hu_HU
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2437/177900
dc.language.isohuhu_HU
dc.subjectLabviewhu_HU
dc.subjectTeszthu_HU
dc.subject.dspaceDEENK Témalista::Műszaki tudományok::Villamosságtanhu_HU
dc.subject.dspaceDEENK Témalista::Műszaki tudományokhu_HU
dc.titleIpari mérőkártyák tesztelése és minősítése labview/teststand software-elhu_HU
Fájlok
Gyűjtemények
Hallgatói dolgozatok (Természettudományi és Technológiai Kar)