In-situ spectral reflectance investigation of hetero-epitaxially grown β-Ga2O3 thin films on c-plane Al2O3 via MOVPE process

A tétel rövid nézete
dc.contributor.authorChou, Ta-Shun
dc.contributor.authorBin Anooz, Saud
dc.contributor.authorGrüneberg, Raimund
dc.contributor.authorRehm, Jana
dc.contributor.authorAkhtar, Arub
dc.contributor.authorMukherjee, Deshabrato
dc.contributor.authorPetrik, Péter
dc.contributor.authorPopp, Andreas
dc.date.accessioned2024-01-24T07:39:34Z
dc.date.available2024-01-24T07:39:34Z
dc.date.issued2024
dc.date.oa2024-02-06
dc.date.pasync2024-12-12T00:06:45Z
dc.date.updated2024-01-24T07:39:34Z
dc.description.correctorSZKM
dc.identifier.citationApplied Surface Science. -652 (2024), p. 1-7. -(cikkazonosító)159370. -Appl. Surf. Sci. - 0169-4332
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.159370
dc.identifier.issn0169-4332
dc.identifier.opachttps://ebib.lib.unideb.hu/ebib/CorvinaWeb?action=cclfind&resultview=long&ccltext=idno+BIBFORM118155
dc.identifier.scopus85182510741
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2437/365452
dc.identifier.urlhttps://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S0169433224000849
dc.languageeng
dc.rights.accessopen access article
dc.rights.ownerSzerző
dc.subject.mabTermészettudományok
dc.subject.mabFizikai tudományok
dc.tenderOTKA 131515
dc.titleIn-situ spectral reflectance investigation of hetero-epitaxially grown β-Ga2O3 thin films on c-plane Al2O3 via MOVPE process
dc.typefolyóiratcikk
dc.typeidegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Fájlok
Eredeti köteg (ORIGINAL bundle)
Megjelenítve 1 - 1 (Összesen 1)
Nincs kép
Név:
FILE_UP_0_In_situ spectral reflectance investigation of hetero.pdf
Méret:
3.17 MB
Formátum:
Adobe Portable Document Format
Leírás:
Kiadói változat
Letöltés
Gyűjtemények
Publikációs Adatbázis