In-situ spectral reflectance investigation of hetero-epitaxially grown β-Ga2O3 thin films on c-plane Al2O3 via MOVPE process
Fájlok
Dátum
2024
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Természettudományok, Fizikai tudományok
Jogtulajdonos
Szerző
Jelzet
Egyéb azonosító
Forrás
Applied Surface Science. -652 (2024), p. 1-7. -(cikkazonosító)159370. -Appl. Surf. Sci. - 0169-4332
Támogatás
OTKA 131515