In-situ spectral reflectance investigation of hetero-epitaxially grown β-Ga2O3 thin films on c-plane Al2O3 via MOVPE process
Betöltés ...
Fájlok
Dátum
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Forrás
Applied Surface Science. -652 (2024), p. 1-7. -(cikkazonosító)159370. -Appl. Surf. Sci. - 0169-4332
Hivatkozás
Gyűjtemények
Jóváhagyás
Áttekintés
Kiegészítve
Hivatkozik rá
Jogok és engedélyezések
open access article
Szerző
Szerző