A kutatásaim során a Budapesti Műszaki Egyetemmel karöltve ismeretlen gyártástechnológiájú oxidált és normál állapotú nanocsövek felületi vizsgálatát hajtottam végre. A munka nagy részében a különböző nanocsövek potenciometrikus titrálását végeztük, amely során oxidált, normál és vak mintákat vizsgáltunk. A titrálás mellett IR és FT-IR spektrumokat is felvettünk az egyes nanocsövekről, mellyel a felületi csoportokra szerettük volna közelítést adni.