Szén nanocsövek felületi vizsgálata

A tétel rövid nézete
dc.contributor.advisorNagy, Zoltán
dc.contributor.authorKordován, Marcell Árpád
dc.contributor.departmentDE--Természettudományi és Technológiai Kar--Kémiai Intézethu_HU
dc.date.accessioned2016-11-18T07:58:22Z
dc.date.available2016-11-18T07:58:22Z
dc.date.created2016-11-16
dc.description.abstractA kutatásaim során a Budapesti Műszaki Egyetemmel karöltve ismeretlen gyártástechnológiájú oxidált és normál állapotú nanocsövek felületi vizsgálatát hajtottam végre. A munka nagy részében a különböző nanocsövek potenciometrikus titrálását végeztük, amely során oxidált, normál és vak mintákat vizsgáltunk. A titrálás mellett IR és FT-IR spektrumokat is felvettünk az egyes nanocsövekről, mellyel a felületi csoportokra szerettük volna közelítést adni.hu_HU
dc.description.correctorgj
dc.description.coursevegyészmérnökhu_HU
dc.description.degreeBSc/BAhu_HU
dc.format.extent28hu_HU
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2437/232349
dc.language.isohuhu_HU
dc.subjectszén nanocsőhu_HU
dc.subjectoxidáció
dc.subjectpotenciometria
dc.subjectIR-spektroszkópia
dc.subject.dspaceDEENK Témalista::Kémiahu_HU
dc.titleSzén nanocsövek felületi vizsgálatahu_HU
Fájlok
Gyűjtemények
Hallgatói dolgozatok (Természettudományi és Technológiai Kar)