Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer
Fájlok
Dátum
2024
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Forrás
Heliyon. -10 : 3 (2024), p. 1-9. -Heliyon. - 2405-8440