Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer
Betöltés ...
Fájlok
Dátum
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Forrás
Heliyon. -10 : 3 (2024), p. 1-9. -(cikkazonosító)e25516. -Heliyon. - 2405-8440
Hivatkozás
Gyűjtemények
Jóváhagyás
Áttekintés
Kiegészítve
Hivatkozik rá
Jogok és engedélyezések
open access article
szerzők
szerzők