Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer
Fájlok
Dátum
2024
Folyóirat címe
Folyóirat ISSN
Kötet címe (évfolyam száma)
Kiadó
Absztrakt
Leírás
Kulcsszavak
Természettudományok, Fizikai tudományok
Jogtulajdonos
szerzők
Jelzet
Egyéb azonosító
Forrás
Heliyon. -10 : 3 (2024), p. 1-9. -(cikkazonosító)e25516. -Heliyon. - 2405-8440
Támogatás
Egyéb TKP2021-NKTA-42
Egyéb 2019-2.1.7-ERANET-2021-00021
Egyéb 2019-2.1.7-ERANET-2021-00021