Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer
dc.contributor.author | Takáts, Viktor | |
dc.contributor.author | Bodnár, Eszter | |
dc.contributor.author | Kaganovskii, Yuri S. | |
dc.contributor.author | Fodor, Tamás | |
dc.contributor.author | Hakl, József | |
dc.contributor.author | Molnár, Sándor | |
dc.contributor.author | Soha, Márton | |
dc.contributor.author | Vad, Kálmán | |
dc.date.accessioned | 2024-02-13T09:13:50Z | |
dc.date.available | 2024-02-13T09:13:50Z | |
dc.date.issued | 2024 | |
dc.date.oa | 2024-11-06 | |
dc.date.pasync | 2024-04-15T23:07:55Z | |
dc.date.updated | 2024-02-13T09:13:50Z | |
dc.description.corrector | LB | |
dc.identifier.citation | Heliyon. -10 : 3 (2024), p. 1-9. -Heliyon. - 2405-8440 | |
dc.identifier.doi | http://dx.doi.org/10.1016/j.heliyon.2024.e25516 | |
dc.identifier.issn | 2405-8440 | |
dc.identifier.opac | https://ebib.lib.unideb.hu/ebib/CorvinaWeb?action=cclfind&resultview=long&ccltext=idno+BIBFORM118621 | |
dc.identifier.scopus | 85183967054 | |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/2437/366264 | |
dc.identifier.url | https://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S2405844024015470 | |
dc.identifier.wos | 001181580100001 | |
dc.language | eng | |
dc.rights.access | open access article | |
dc.rights.owner | szerzők | |
dc.subject.mab | Természettudományok | |
dc.subject.mab | Fizikai tudományok | |
dc.tender | Egyéb TKP2021-NKTA-42 | |
dc.tender | Egyéb 2019-2.1.7-ERANET-2021-00021 | |
dc.title | Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer | |
dc.type | folyóiratcikk | |
dc.type | idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban |
Fájlok
Eredeti köteg (ORIGINAL bundle)
1 - 1 (Összesen 1)
Nincs kép
- Név:
- FILE_UP_0_Characterization of nanoscale atomic.pdf
- Méret:
- 4 MB
- Formátum:
- Adobe Portable Document Format
- Leírás:
- KIadói változat