Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer

A tétel rövid nézete
dc.contributor.authorTakáts, Viktor
dc.contributor.authorBodnár, Eszter
dc.contributor.authorKaganovskii, Yuri S.
dc.contributor.authorFodor, Tamás
dc.contributor.authorHakl, József
dc.contributor.authorMolnár, Sándor
dc.contributor.authorSoha, Márton
dc.contributor.authorVad, Kálmán
dc.date.accessioned2024-02-13T09:13:50Z
dc.date.available2024-02-13T09:13:50Z
dc.date.issued2024
dc.date.pasync2024-04-15T23:07:55Z
dc.date.updated2024-02-13T09:13:50Z
dc.identifier.citationHeliyon. -10 : 3 (2024), p. 1-9. -Heliyon. - 2405-8440
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.1016/j.heliyon.2024.e25516
dc.identifier.issn2405-8440
dc.identifier.opachttps://ebib.lib.unideb.hu/ebib/CorvinaWeb?action=cclfind&resultview=long&ccltext=idno+BIBFORM118621
dc.identifier.scopus85183967054
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2437/366264
dc.identifier.urlhttps://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S2405844024015470
dc.identifier.wos001181580100001
dc.languageeng
dc.subject.mabTermészettudományok
dc.subject.mabFizikai tudományok
dc.tenderEgyéb TKP2021-NKTA-42
dc.tenderEgyéb 2019-2.1.7-ERANET-2021-00021
dc.titleCharacterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer
dc.typefolyóiratcikk
dc.typeidegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Fájlok
Eredeti köteg (ORIGINAL bundle)
Megjelenítve 1 - 1 (Összesen 1)
Nem elérhető
Név:
FILE_UP_0_Characterization of nanoscale atomic.pdf
Méret:
4 MB
Formátum:
Adobe Portable Document Format
Leírás:
KIadói változat
Letöltés
Gyűjtemények
Publikációs Adatbázis